Advanced Materials:紫外至太赫兹波段二维材料光电探测器

中科院上海技物所黄志明课题组综述了近年来紫外至太赫兹波段的二维材料光电探测器,指出部分二维材料探测器性能被高估的原因,并将二维材料光电探测器性能与传统半导体材料探测器性能进行了比较,提出电磁诱导势阱效应(EIW)机理能利用二维材料厚度薄等优势,可适合发展二维材料高性能探测器。