Small:二维材料中挠曲电诱导的面外压电性

华东师范大学物理与电子科学学院胡志高课题组通过压电响应力显微镜(PFM)探测到悬空的弯曲二维二硫化钼和硒化铟中存在很强的面外机电耦合,发现弯曲薄膜中挠曲电诱导产生的有效面外压电系数呈现明显的曲率依赖与厚度依赖关系。