Small Methods:扫描透射莫尔条纹方法(STEM-MF)

北京工业大学柯小行副教授课题组与中科院物理所苏东研究员课题组合作撰写综述文章,全面介绍了STEM-MF方法的相关理论,并进一步结合几何相位分析(GPA)、环形明场成像(ABF-STEM)、能量色散 X 射线光谱(EDX)和电子能量损失光谱(EELS),深入讨论了该方法的发展。