Small:临场扫描穿透式电子显微镜观测原子尺度下制作数层二硫化钼的平面内异质接面

数层二硫化钼的物化特性与堆叠配置和层数相关。台湾新竹交通大学吴文伟教授透过临场穿透式电子显微镜将此材料雕刻出平面内的异质结面,并观察到了动态的自组装行为,包括捲曲、折叠、蚀刻和重组。原子分辨影像解析出此结构的层数变化和堆叠顺序。能损光谱的分析证实元素的分布,为开发尖端晶体的光电装置的设计奠基。