Small Methods :“离子迁移” 卤化物钙钛矿基电学器件的“双刃剑”

香港科技大学杨世和教授和中国石油大学(华东)张腾副教授在Small Methods上发表了题为“Ion Migration: A “Double-Edged Sword” for Halide-Perovskite-Based Electronic Devices”的综述文章(DOI:10.1002/smtd.201900552)。