Advanced Optical Materials:光谱仪中的“墨子号”——高探测率单根纳米线片上光谱仪

南京大学电子科学与工程学院王肖沐团队和合作者制备出沿能带渐变CdSxSe1–x 纳米线分布光电探测器二极管阵列,探测率高达1013Jones,创新地提出了基于纳米线波导工作模式的片上光谱仪分析范式,成功实现了分辨率达5 nm片上荧光测试和光谱重构。