在线讲座:如何制备高质量的电子显微镜样品

利用双束技术制备高质量S/TEM样品

132428gp4tm48pmzn6e44t主讲人:韩伟,FEI公司高级产品工程师

   韩伟,FEI公司高级产品工程师。于2010年进入FEI公司做高级应用工程师,此前在天美公司任电镜产品经理。在1998年北京工业大学获得金属材料工学硕士,2004年在德国克劳斯塔尔工业大学获得物理学博士学位。

 

讲座内容:

      在本次讲座中,主讲人将会结合生动的实际案例对以下几个方面进行介绍,并和听众共同探讨他们目前面临的相关技术问题。

1. 使用高分辨率透射电子显微镜及制备样本的要求

2. 双束技术以及利用双束显微镜制备TEM样本的好处

3. 双束技术最新发展情况

 

讲座时间:

       2014年9月17日(周三)上午10:00

 

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