克服表面等离激元天线存在的淬灭问题

由于其增强和控制单个量子辐射体发光特性的能力,表面等离激元天线已经吸引了大量的研究兴趣。然而,金属引起的淬灭损耗经常减弱辐射体的能量,掩盖了天线对激发和辐射过程的影响,因此单凭发光强度来分析天线-辐射体的耦合是不够的。

目前,一项新的研究利用两步电子束刻蚀方法研究了单个量子点和金二聚体天线耦合后的发光特性。通过对量子点多电子激发态的详细分析得以从辐射和淬灭效应中区分出天线对激发强度的影响。即使存在影响辐射的强的淬灭损耗,在这项工作中仍然可以观测到激发增强。

这项研究工作被先进光学材料期刊(Advanced Optical Materials)报道。该杂志是先进材料期刊(Advanced Materials)的一部分,主要报道光子学,表面等离子体,超常材料等领域的突破性发现和基础性研究,涵盖光与物质相互作用的各个方向。如果想获得先进光学材料期刊的邮件订阅,请点击这里。先进光学材料将于2013年成为独立的期刊。更多的信息可以从www.advopticalmat.de网站获得。