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Bruker新型手持材料分析仪

Bruker公司为材料科学以及工业和应用分析研究提供多种的科学仪器和解决方案。最近他们发布了一种新型的手持X射线荧光(XRF)分析仪。该型号为S1 Titan的分析仪是目前市场上最轻的手持XRF分析仪之一,包含电池的重量仅为1.44公斤。它包括了一个集成的彩色触摸屏、最高达59kv的X-射线管和一个高能量分辨率并且可以检测轻元素的Si漂移探头,它们被封装起来以防止环境中的潮湿和灰尘。

 

该分析仪有三种不同的配置:LE版本实用的薄膜探测窗口可以检测多达37种元素,其中包括Mg、Al和Si这样的轻元素,而且不需要真空或者氦气冲洗的条件。SE版本用于检测标准的合金,可以用于高达500度的样品。SP版中使用了传统的SiPiN探头,用于检测生产过程中的样品,也可用于高达500度的样品。

Bruker公司称,SharpBeam的专利技术改善了探头和X-射线管的几何设计,进而提高了设备的检测精度,降低了能力消耗延长了电池实用的时间。

新型分析仪可以广泛应用于各种条件和材料,例如:工业金属材料、航空航天的合金材料、电子废料、岩芯、土壤和消费品等等。可以应用于航空和汽车行业、金属加工、电子产品的生产、炼油厂或者发电厂、矿产行业、电子垃圾分类和回收、消费品检测以及环境检测或者实验室。分析仪将可以准确迅速地确认您的试样所包含的元素成分。

Bruker元素分析部门的执行副总裁John Landefeld说:“我们完全地对产品进行了重新的设计,减轻了近1//3的重量。在元素分析方面,S1 Titan的对多种重要金属材料的表现具有更大的提高。它将为您提供高效、准确而且易用的元素分析和材料确定。”

 

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